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sem是扫描电镜，主要用于微观形貌观测及微区成分分析TEM是透射电镜，主要用于微区衍射分析，进行材料的微观结构分析、晶体学参数分析，位错等研究AFM是原子力显微镜，主要用于材料表面微观形貌观测，可实现3维立体构图XRD是X射线衍射，主要用于物相分析（定性与定量），结晶度分析，织构测定，晶体学参数测定等红外光谱主要用于有机官能团的标识
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本文概览：sem是扫描电镜，主要用于微观形貌观测及微区成分分析TEM是透射电镜，主要用于微区衍射分析，进行材料的微观结构分析、晶体学参数分析，位错等研究AFM是原子力显微镜，主要用于材料表面微观形貌观测，可实现3维立体构图XRD是X射线衍射，主要用于物相分析（定性与定量），结晶度分析，织构测定，晶体学参数测定等红外光谱主要用于有机官能团的标识